Kongres Metrologii to cykliczna krajowa konferencja naukowa, w której udział bierze większość krajowych ośrodków zajmujących się metrologią i jej zastosowaniem. Patronat naukowy nad Kongresem piastuje Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk. Obecny, IX Kongres Metrologii’2023, organizowany jest przez Instytut Optoelektroniki Wojskowej Akademii Technicznej.
Kongres odbędzie się w dniach 10–14 września 2023 roku w Mazurskim Centrum Kongresowo-Wypoczynkowym „Zamek Ryn” w Rynie.
Patronem Honorowym Kongresu jest JM gen. bryg. prof. dr hab. inż. Przemysław Wachulak, Rektor-Komendant Wojskowej Akademii Technicznej oraz Prezes Głównego Urzędu Miar prof. dr hab. Jacek Semaniak.
Przewodniczącym Komitetu Naukowego Kongresu jest JM gen. bryg. prof. dr hab. inż. Przemysław Wachulak, Rektor-Komendant Wojskowej Akademii Technicznej.
Przewodniczącym Kongresu jest dr hab. inż. Krzysztof Kopczyński, prof. WAT.
Oficjalnym językiem Kongresu jest język polski.
Tematyka Kongresu dotyczy najważniejszych problemów współczesnej metrologii, obejmując następujące obszary tematyczne:
- wzorce jednostek miar, służba miar
- ocena dokładności pomiaru
- systemy pomiarowe i transmisja danych
- przetworniki pomiarowe, metody przetwarzania sygnałów
- pomiary wielkości mechanicznych
- pomiary wielkości elektrycznych
- pomiary wielkości geometrycznych
- pomiary wielkości chemicznych
- pomiary temperatury
- metrologia w procesach przemysłowych
- inżynieria materiałowa
- metrologia optyczna i fotoniczna, z elementami metrologii układów kwantowych
- pomiary w medycynie
- metrologia w inżynierii biomedycznej, i biotechnologiach
- pomiary geodezyjne i budowlane
- nowe kierunki w metrologii
- zagadnienia metrologiczne w obszarze „zielonej” energetyki
Zapraszamy do udziału w Kongresie przedstawicieli różnych środowisk i dyscyplin naukowych, pracowników administracji publicznej oraz przedstawicieli biznesu zainteresowanych przedstawioną problematyką. Celem Kongresu Metrologii jest wymiana poglądów i doświadczeń oraz prezentacja wyników badań dotyczących problemów współczesnej metrologii.